DS/EN 62374-1:2011
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев.

Стандартный №

DS/EN 62374-1:2011

Дата публикации

2011

Разместил

Danish Standards Foundation

состояние

быть заменен 2011-07

быть заменен

DS/EN 62374-1/AC:2011

Последняя версия

DS/EN 62374-1/AC:2011

заменять

DS/EN 62374-2007

сфера применения

В стандарте IEC 62374-1:2010 описываются метод испытаний, структура испытаний и метод оценки срока службы испытания на нестационарный диэлектрический пробой (TDDB) для интерметаллических слоев, применяемых в полупроводниковых устройствах.

DS/EN 62374-1:2011 История

• 2011 DS/EN 62374-1/AC:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев.
• 2011 DS/EN 62374-1:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев.

стандарты и спецификации