В стандарте IEC 62374-1:2010 описываются метод испытаний, структура испытаний и метод оценки срока службы испытания на нестационарный диэлектрический пробой (TDDB) для интерметаллических слоев, применяемых в полупроводниковых устройствах.
DS/EN 62374-1:2011 История
2011DS/EN 62374-1/AC:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев.
2011DS/EN 62374-1:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев.