DANSK DS/EN 62374-1:2011
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев.

Стандартный №

DANSK DS/EN 62374-1:2011

Дата публикации

2011

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DANSK DS/EN 62374-1:2011

Введение

Данная норма относится к семейству стандартов для полупроводниковых устройств и охватывает первую часть по протестированию металлических слоев на диэлектрический пробой со временем (TDDB). Стандарт определяет методы тестирования, которые необходимы для проведения надежных экспериментов и получения достоверных данных о долгосрочной стабильности полупроводниковых устройств. Он включает описание оборудования, процедур подготовки образцов и анализ полученных результатов.

*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.

DANSK DS/EN 62374-1:2011 История

• 2011 DANSK DS/EN 62374-1:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев.

стандарты и спецификации