LST EN 62374-1-2011
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев (IEC 62374-1:2010)

Стандартный №

LST EN 62374-1-2011

Дата публикации

2011

Разместил

Lithuanian Standards Office

Последняя версия

LST EN 62374-1-2011

LST EN 62374-1-2011 История

• 2011 LST EN 62374-1-2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев (IEC 62374-1:2010)