DS/EN 60749-30/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность - Стандарты и спецификации PDF

DS/EN 60749-30/A1:2011
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность

Стандартный №
DS/EN 60749-30/A1:2011
Дата публикации
2011
Разместил
Danish Standards Foundation
Последняя версия
DS/EN 60749-30/A1:2011
сфера применения
Устанавливает стандартную процедуру определения предварительной подготовки негерметичных устройств поверхностного монтажа (SMD) перед испытанием на надежность. Метод испытаний определяет поток предварительной подготовки для негерметичных твердотельных SMD, типичный для типичной промышленной операции многократного оплавления припоем. Эти SMD должны быть подвергнуты соответствующей последовательности предварительной подготовки, описанной в настоящем стандарте, прежде чем подвергаться специальным внутренним испытаниям на надежность с целью оценки долгосрочной надежности.

DS/EN 60749-30/A1:2011 История

  • 2011 DS/EN 60749-30/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность
  • 2005 DS/EN 60749-30:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность



© 2023. Все права защищены.