DS/EN 60749-23/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. - Стандарты и спецификации PDF

DS/EN 60749-23/A1:2011
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.

Стандартный №
DS/EN 60749-23/A1:2011
Дата публикации
2011
Разместил
Danish Standards Foundation
Последняя версия
DS/EN 60749-23/A1:2011
 

сфера применения
Этот тест используется для определения влияния условий смещения и температуры на твердотельные устройства с течением времени. Он моделирует рабочее состояние устройства в ускоренном режиме и в первую очередь используется для квалификации устройства и контроля надежности.

DS/EN 60749-23/A1:2011 История

  • 2011 DS/EN 60749-23/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
  • 2004 DS/EN 60749-23:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.

стандарты и спецификации

IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. KS C IEC 60749-23-2006(2016 приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. DANSK DS/EN 60749-23/A1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. CEI EN 60749-23/A1:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. IEC 60749-23:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. OS GSO IEC 60749-23:2014 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. IEC 60749-23:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. DS/EN 60749-23:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. KS C IEC 60749-23:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.



© 2025. Все права защищены.