Данный стандарт регулирует методы механических и климатических испытаний для полупроводниковых устройств. В части, относящейся к высокотемпературной рабочей долговечности, описываются процедуры, позволяющие оценить надежность компонентов при воздействии повышенных температур. Стандарт содержит подробные указания по подготовке образцов, условиям проведения испытаний, параметрам измерений и интерпретации полученных результатов. Он предназначен для использования в процессе разработки, производства и контроля качества полупроводниковых изделий. В тексте приводятся общепринятые методы, обеспечивающие воспроизводимость и сопоставимость результатов испытаний, выполненных в различных лабораториях. Основное внимание уделено обеспечению точности и надежности данных, получаемых в ходе испытаний, что позволяет повысить качество и безопасность конечных продуктов.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.