Этот стандарт определяет методы испытаний для механических и климатических характеристик полупроводниковых устройств. Он включает в себя специфические процедуры, направленные на оценку долговечности при высоких температурах. В нем описываются условия, методы проведения испытаний и критерии оценки результатов. Стандарт обеспечивает единые подходы к тестированию, что позволяет сравнивать результаты между различными лабораториями и организациями. Он также учитывает влияние различных факторов окружающей среды на работу полупроводниковых компонентов.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.