NF C96-011:1989 Электронные компоненты. Полупроводниковые приборы. Часть 11. Технические характеристики дискретных устройств. - Стандарты и спецификации PDF

NF C96-011:1989
Электронные компоненты. Полупроводниковые приборы. Часть 11. Технические характеристики дискретных устройств.

Стандартный №
NF C96-011:1989
Дата публикации
1989
Разместил
Association Francaise de Normalisation
состояние
Последняя версия
NF C96-011:1989
 

сфера применения
Электронные компоненты. Полупроводниковые приборы. Часть 11. Технические характеристики дискретных устройств.

NF C96-011:1989 История

  • 1989 NF C96-011:1989 Электронные компоненты. Полупроводниковые приборы. Часть 11. Технические характеристики дискретных устройств.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

NF C96-010:1989 Электронные компоненты. Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общие спецификации для дискретных устройств и интегральных схем GSO IEC 60748-4-1:2013 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы. Раздел 1. Бланк подробной спецификации для линейных цифро-аналоговых IEC 60748-2-2:1992 Полупроводниковые приборы; интегральные схемы; часть 2: цифровые интегральные схемы; раздел 2: семейная спецификация для цифровых интегральных схем HCMOS серий IEC 60748-2-3:1992 Полупроводниковые приборы; интегральные схемы; часть 2: цифровые интегральные схемы; раздел 3: пустая подробная спецификация для цифровых интегральных схем DIN EN 60191-1 E:2017-05 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила составления габаритных чертежей дискретных приборов DS/IEC 747-3:1993 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 3. Сигнальные (включая коммутационные) и регуляторные диоды DS/EN 60749-8+Corr.2:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация GJB 128B-2021 Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств BS EN IEC 63215-2:2023 Методы испытаний на выносливость материалов для крепления к кристаллу. Метод испытания на циклическое изменение температуры для материалов для крепления



© 2025. Все права защищены.