DS/IEC 747-3:1993 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 3. Сигнальные (включая коммутационные) и регуляторные диоды. - Стандарты и спецификации PDF

DS/IEC 747-3:1993
Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 3. Сигнальные (включая коммутационные) и регуляторные диоды.

Стандартный №
DS/IEC 747-3:1993
Дата публикации
1993
Разместил
Danish Standards Foundation
состояние
 1993-04
быть заменен
DS/IEC 747-3+Amd.1:1993
Последняя версия
DS/IEC 747-3+Amd.1:1993
 

сфера применения
Полупроводниковый элемент Дискретный элемент и интегральный элемент. Часть 3: Сигнальный диод (включающий коблингсдиод) и стабилизирующий диод. Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 3. Сигнальные (включая коммутационные) и стабилизаторные диоды.

DS/IEC 747-3:1993 История

  • 1993 DS/IEC 747-3+Amd.1:1993 Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 3. Сигнальные (включая коммутационные) и регуляторные диоды.
  • 1986 DS/IEC 747-3:1986 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 3. Сигнальные (включая коммутационные) и регуляторные диоды.

стандарты и спецификации

NF C96-003:1986 приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 3: сигнальные (включая коммутационные) и регуляторные диоды. GSO IEC 60748-4-1:2013 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы. Раздел 1. Бланк подробной спецификации для линейных цифро-аналоговых NF C96-010:1989 Электронные компоненты. Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общие спецификации для дискретных устройств и интегральных схем DS/EN 60749-8+Corr.2:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация IEC 60749-17:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение IEC 60191-6:2004 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6. Общие правила составления габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов DIN EN 60749-31:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне индуцированная IEC 60147-1:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерения. Часть 1. Основные номиналы и характеристики BS EN 60191-6:2005 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Общие правила составления габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа



© 2025. Все права защищены.