IEC 60147-1:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерения. Часть 1. Основные номиналы и характеристики. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 60147-1:1963
Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерения. Часть 1. Основные номиналы и характеристики.

Стандартный №
IEC 60147-1:1963
Дата публикации
1963
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние
быть заменен
IEC 60147-1:1972
Последняя версия
IEC 60147-1:1972
заменять
1963-01-01
 

сфера применения
Настоящее второе издание заменяет IEC 147-1 (1963 г.) и 147-1A (1963 г.). Для каждого типа полупроводниковых приборов приводится список основных номиналов и характеристик, основная цель которых — облегчить сравнение аналогичных продуктов. В этой части речь идет о сигнальных диодах малой мощности (в том числе коммутационных); диоды опорного и стабилизатора напряжения; маломощные сигнальные биполярные транзисторы; силовые биполярные транзисторы (кроме коммутационных и высокочастотных применений); коммутационные биполярные транзисторы; полевые транзисторы.

IEC 60147-1:1963 История

  • 1972 IEC 60147-1:1972 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики
  • 1963 IEC 60147-1:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерения. Часть 1. Основные номиналы и характеристики.

стандарты и спецификации

AS C366.1:1971 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы метода измерения. Часть 1. Основные IEC 60147-1:1972 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные IEC 60147-1F:1973 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные IEC 60147-1G:1975 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные IEC 60147-1J:1981 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные AS 2547.1:1983 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерения. Часть 1. Основные IEC 60147-1A:1963 А. Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерения. Часть 1. Основные IEC 60147-1E:1973 . Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерения. Часть 1. Основные IEC 60147-1C:1969 . Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерения. Часть 1. Основные



© 2025. Все права защищены.