ASTM B588-88(1994)
Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа

Стандартный №

ASTM B588-88(1994)

Дата публикации

1988

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

быть заменен

быть заменен

ASTM B588-88(2001)

Последняя версия

ASTM B588-10

сфера применения

1.1 Настоящий метод испытаний охватывает измерение толщины прозрачного оксида металла и металлических покрытий с использованием двухлучевого интерференционного микроскопа.

1.2 Этот метод испытаний требует, чтобы поверхность или поверхности образца были достаточно зеркальными для образования распознаваемых полос.

1.3 Этот метод испытаний может использоваться неразрушающим образом для измерения от 1 до 10956; м толстые прозрачные покрытия, такие как анодные покрытия на алюминии. Этот метод испытаний применяется разрушительно для непрозрачных покрытий толщиной от 0,1 до 10 956 мкм путем снятия части покрытия и измерения высоты ступеньки между покрытием и обнаженной подложкой. Метод зачистки также можно использовать для измерения толщины анодных покрытий на алюминии от 0,2 до 10 956 мкм.

1.4 Этот метод испытаний можно использовать в качестве эталонного метода для измерения толщины анодной пленки на алюминии или металлических покрытий, когда метод включает полное снятие части покрытия без воздействия на подложку. Для анодных пленок на алюминии толщина должна быть более 0,4 956 мкм; неопределенность может достигать 0,2 956;м. Для металлических покрытий толщина должна быть более 0,25 956 мкм; неопределенность может достигать 0,1956 м.

1.5. Настоящий стандарт не претендует на рассмотрение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM B588-88(1994) История

• 2010 ASTM B588-10 Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
• 1988 ASTM B588-88(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
• 1988 ASTM B588-88(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
• 1988 ASTM B588-88(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
• 1988 ASTM B588-88(1994) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа

стандарты и спецификации