ASTM B588-88(2006)
Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа

Стандартный №

ASTM B588-88(2006)

Дата публикации

1988

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

быть заменен

быть заменен

ASTM B588-88(2010)

Последняя версия

ASTM B588-10

сфера применения

Толщина покрытия часто имеет решающее значение для его эксплуатационных характеристик. Для некоторых комбинаций покрытие-подложка метод интерференционного микроскопа является надежным методом измерения толщины покрытия. Этот метод испытаний подходит для принятия технических условий. 1.1 Этот метод испытаний охватывает измерение толщины прозрачного оксида металла и металлических покрытий с использованием двухлучевого интерференционного микроскопа. 1.2 Этот метод испытаний требует, чтобы поверхность или поверхности образца были достаточно зеркальными, чтобы образуют узнаваемые полосы.1.3 Этот метод испытаний можно использовать неразрушающим методом для измерения прозрачных покрытий толщиной от 1 до 10 мкм, таких как анодные покрытия на алюминии. Этот метод испытаний используется разрушительно для непрозрачных покрытий толщиной от 0,1 до 10 мкм путем снятия части покрытия и измерения высоты ступеньки между покрытием и обнаженной подложкой. Метод зачистки также можно использовать для измерения толщины анодного покрытия на алюминии толщиной от 0,2 до 10 мкм. 1.4 Этот метод испытаний можно использовать в качестве эталонного метода для измерения толщины анодной пленки на алюминии или металлических покрытий, когда метод включает в себя полную снятие части покрытия без воздействия на подложку. Для анодных пленок на алюминии толщина должна быть более 0,4 мкм; неопределенность может достигать 0,2 м. Для металлических покрытий толщина должна быть более 0,25 м; погрешность может достигать 0,1 м. Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM B588-88(2006) Ссылочный документ

• ASTM B504 Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий кулонометрическим методом*， 2023-05-01 Обновление

ASTM B588-88(2006) История

• 2010 ASTM B588-10 Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
• 1988 ASTM B588-88(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
• 1988 ASTM B588-88(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
• 1988 ASTM B588-88(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
• 1988 ASTM B588-88(1994) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа

стандарты и спецификации