ASTM B681-88(1994) - Стандарты и спецификации PDF

сфера применения: 1.1 Настоящий метод испытаний включает процедуру неразрушающего измерения толщины прозрачных анодных покрытий на алюминиевых изделиях с помощью светового микроскопа. Этот метод также можно использовать для измерения толщины любого прозрачного покрытия на непрозрачной отражающей поверхности. 1.2 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM B681-88(1994) Ссылочный документ

ASTM B244 Стандартный метод испытаний для измерения толщины анодных покрытий на алюминии и других непроводящих покрытий на немагнитных металлах с помощью вихретоковых приборов*， 1997-01-04 Обновление
ASTM B487 Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения*， 1985-01-04 Обновление
ASTM B588 Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа*， 1988-01-04 Обновление
ISO 2128 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа.*， 2010-09-01 Обновление