ANSI/TIA/EIA 455-176-A-2003 Метод измерения геометрии поперечного сечения оптического волокна с помощью автоматического анализа шкалы серого - Стандарты и спецификации PDF

ANSI/TIA/EIA 455-176-A-2003
Метод измерения геометрии поперечного сечения оптического волокна с помощью автоматического анализа шкалы серого

Стандартный №
ANSI/TIA/EIA 455-176-A-2003
Дата публикации
2003
Разместил
American National Standards Institute (ANSI)
Последняя версия
ANSI/TIA/EIA 455-176-A-2003
 

сфера применения
Устанавливает единые требования к измерению геометрических характеристик непокрытых оптических волокон.

ANSI/TIA/EIA 455-176-A-2003 История

  • 2003 ANSI/TIA/EIA 455-176-A-2003 Метод измерения геометрии поперечного сечения оптического волокна с помощью автоматического анализа шкалы серого

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

ANSI/TIA-455-176-A-2003 Метод измерения геометрии поперечного сечения оптического волокна с помощью автоматического анализа шкалы серого UNI EN ISO 20705:2020 Текстиль - Количественный микроскопический анализ - Общие принципы тестирования BS EN 61745:2017 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна. Часть 1. Введение и дорожная карта EN 61745:2017 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна GSO IEC 61745:2015 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна IEC 61745:1998 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна BS IEC 61745:1998 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна BS IEC 61745:1999 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна GOST ISO 20705-2022 Материалы и изделия текстильные. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы испытания



© 2025. Все права защищены.