В исследовательских и производственных средах существует ряд методов испытаний для определения геометрии оптических волокон. Более того, каждый метод испытаний может определить один или несколько из многих параметров, необходимых для полной геометрической характеристики. Этот международный стандарт описывает калибровку тестовых наборов, которые выполняют анализ изображения торцевой поверхности, также известный как анализ ближнего поля или анализ шкалы серого. Однако эти принципы могут быть применены к тестовым наборам другого типа. В этом стандарте рассматривается калибровка измерений, выполняемых только на одномодовых волокнах; однако этот тип испытательной установки может также использоваться для измерения геометрических параметров сердцевин многомодовых волокон, но оценка неопределенностей, связанных с этими измерениями, выходит за рамки настоящего стандарта. Описанные процедуры должны выполняться калибровочными лабораториями, а также производителями или пользователями наборов для проверки геометрии с целью калибровки наборов для проверки геометрии и для оценки неопределенностей в измерениях, выполненных на калиброванных испытательных наборах. Настоящий стандарт не охватывает калибровку покрытия волокна или испытательные комплекты для измерения кабеля. Целью настоящего стандарта является определение стандартной процедуры калибровки испытательных комплектов для измерения геометрии стекла оптических волокон.
IEC 61745:1998 История
2017IEC 61745:2017 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна
1998IEC 61745:1998 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна