European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN 61745:2017
сфера применения
В стандарте IEC 61745:2017 описывается калибровка тестовых наборов, которые выполняют анализ изображения торцевой поверхности, также известный как анализ «ближнего поля» или «анализ по шкале серого». Однако эти принципы могут быть применены к тестовым наборам другого типа. Описанные процедуры выполняются калибровочными лабораториями, а также производителями или пользователями наборов для проверки геометрии с целью калибровки наборов для проверки геометрии и для оценки неопределенностей в измерениях, выполненных на калиброванных наборах для проверки геометрии. Калибровка покрытия волокна или испытательные комплекты для измерения кабеля не рассматриваются в этом документе. Настоящее второе издание отменяет и заменяет первое издание, опубликованное в 1998 году, и представляет собой техническую переработку. Это издание включает в себя следующие существенные технические изменения по сравнению с предыдущим изданием: а) снятие ограничения на наборы для тестирования геометрии одномодового оптического волокна включить многомодовый; б) добавление нового приложения в качестве математической основы. Ключевые слова: анализ конечного изображения, наборы тестов геометрии оптического волокна.
EN 61745:2017 История
2017EN 61745:2017 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна