Настоящий стандарт определяет марки, технические требования, методы испытаний, правила контроля, знаки, упаковку, транспортировку, хранение и т. д. монокристаллических слитков и одиночных пластин фосфида индия n-типа, полуизоляционного (Si) и p-типа. Настоящий стандарт распространяется на монокристаллические материалы фосфида индия (далее - монокристаллы), полученные методом жидкостного уплотнения высокого давления Чохральского (HP-LEC).
GB/T 20230-2006 Ссылочный документ
GB/T 13387 Метод испытаний для измерения плоских пластин кремния и других электронных материалов*, 2009-10-30 Обновление
GB/T 1550 Методы испытаний типа проводимости примесных полупроводниковых материалов*, 2018-12-28 Обновление
GB/T 1555 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника*, 2023-08-06 Обновление