Процедура предназначена для характеристики режимов постепенной деградации, присутствующих в телекоммуникационных лазерных диодах. Полученные данные будут проанализированы в соответствии со стандартными процедурами TIA/EIA 610.
ANSI/TIA/EIA 455-130-2001 История
2001ANSI/TIA/EIA 455-130-2001 Испытание лазерных диодов на долговечность при повышенных температурах