JEDEC JESD22-A113I-2020 Метод JESD22-A113I предварительной подготовки негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность (редакция A113H) - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JESD22-A113I-2020
Метод JESD22-A113I предварительной подготовки негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность (редакция A113H)

Стандартный №
JEDEC JESD22-A113I-2020
Дата публикации
2020
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
 

сфера применения
Настоящий стандарт устанавливает стандартный отраслевой процесс предварительной подготовки негерметичных твердотельных устройств поверхностного монтажа (SMD), представляющий собой типичную для отрасли процедуру многократной пайки оплавлением припоя. Эти SMD-устройства должны быть предварительно подготовлены производителем в соответствии с соответствующей последовательностью предварительной подготовки, описанной в настоящем документе, перед проведением специальных внутренних испытаний на надёжность (квалификационных испытаний и контроля надёжности) для оценки долговременной надёжности (на которую может повлиять пайка оплавлением припоя). Устройства, допускающие поверхностный монтаж, но предназначенные/предназначенные только для монтажа в гнездо, не входят в область применения данного метода испытаний.
Метод JESD22-A113I предварительной подготовки негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность (редакция A113H)

стандарты и спецификации

IEC 60749-30:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа DS/EN 60749-30/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа DS/EN 60749-30:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа DIN EN IEC 60749-30:2023-02 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств для поверхностного IEC 60749-30:2020 RLV Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа BS EN IEC 60749-30:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа GSO IEC 60749-30:2014 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа BS EN 60749-30:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа EN IEC 60749-30:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа



© 2025. Все права защищены.