CEI EN 62132-4:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Метод прямой подачи радиочастотной мощности. - Стандарты и спецификации PDF

CEI EN 62132-4:2006
Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Метод прямой подачи радиочастотной мощности.

Стандартный №
CEI EN 62132-4:2006
Дата публикации
2006
Разместил
Comitato Elettrotecnico Italiano
Последняя версия
CEI EN 62132-4:2006
 

Введение
Стандарт определяет методы измерения электромагнитной устойчивости интегральных схем в диапазоне частот от 150 кГц до 1 ГГц. В частности, он описывает процедуру непосредственного введения радиочастотной мощности для проверки способности устройств противостоять воздействию электромагнитных помех. Данный документ устанавливает требования к проведению испытаний, включая параметры измерений, оборудование и условия тестирования. Также он регламентирует методику оценки результатов и критерии приемки изделий. Стандарт обеспечивает согласованность подходов к тестированию и позволяет сравнивать результаты между различными лабораториями.

CEI EN 62132-4:2006 История

  • 2006 CEI EN 62132-4:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Метод прямой подачи радиочастотной мощности.

стандарты и спецификации

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Поправка 1. Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений. Метод прямой DIN EN 62132-2:2011-07*VDE 0847-22-2:2011-07 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости DIN EN 62132-8:2013-03*VDE 0847-22-8:2013-03 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости GSO IEC 62132-2:2013 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной IEC 62132-2:2010 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной BS EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Ячейка TEM и метод широкополосной ячейки TEM DS/EN 62132-8:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 8. Измерение устойчивости к излучению. Метод полосковых ИС EN 62132-8:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 8. Измерение устойчивости к излучению. Метод полосковых ИС DS/EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной



© 2025. Все права защищены.