Toggle navigation
Стартовая страница
CEI EN 62374-1:2012
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) межметаллических слоев.
Стартовая страница
CEI EN 62374-1:2012
Стандартный №
CEI EN 62374-1:2012
Дата публикации
2012
Разместил
Comitato Elettrotecnico Italiano
Последняя версия
CEI EN 62374-1:2012
CEI EN 62374-1:2012 История
2012
CEI EN 62374-1:2012
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) межметаллических слоев.
Специальные темы по стандартам и нормам
Напряжение пробоя полупроводниковых приборов
Пробивное напряжение полупроводниковых приборов
Испытание напряжения пробоя полупроводниковых приборов
стандарты и спецификации
IEC 62374-1:2010
Полупроводниковые
приборы
.
Часть
1
.
Испытание
на
временной
диэлектрический
пробой
(
TDDB
) для
межметаллических
слоев
.
DS/EN 62374-1/AC:2011
Полупроводниковые
приборы
.
Часть
1
.
Испытание
на
временной
диэлектрический
пробой
(
TDDB
) для
межметаллических
слоев
.
DS/EN 62374-1:2011
Полупроводниковые
приборы
.
Часть
1
.
Испытание
на
временной
диэлектрический
пробой
(
TDDB
) для
межметаллических
слоев
.
GSO IEC 62374-1:2013
Полупроводниковые
приборы
.
Часть
1
.
Испытание
на
временной
диэлектрический
пробой
(
TDDB
) для
межметаллических
слоев
.
NF C96-017-1*NF EN 62374-1:2011
Полупроводниковые
приборы
.
Часть
1
:
испытание
на
временной
диэлектрический
пробой
(
TDDB
)
межметаллических
слоев
.
BS EN 62374-1:2010(2011
Полупроводниковые
приборы
.
Часть
1
.
Испытание
на
временной
диэлектрический
пробой
(
TDDB
) для
межметаллических
слоев
.
OS GSO IEC 62374-1:2013
приборы
.
Часть
1
.
Испытание
на
временной
диэлектрический
пробой
(
TDDB
) для
межметаллических
слоев
.
DANSK DS/EN 62374-1/AC:2011
Полупроводниковые
приборы
.
Часть
1
.
Испытание
на
временной
диэлектрический
пробой
(
TDDB
) для
межметаллических
слоев
.
DANSK DS/EN 62374-1:2011
Полупроводниковые
приборы
.
Часть
1
.
Испытание
на
временной
диэлектрический
пробой
(
TDDB
) для
межметаллических
слоев
.
© 2025. Все права защищены.