CEI EN 62374-1:2012 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) межметаллических слоев. - Стандарты и спецификации PDF

CEI EN 62374-1:2012
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) межметаллических слоев.

Стандартный №
CEI EN 62374-1:2012
Дата публикации
2012
Разместил
Comitato Elettrotecnico Italiano
Последняя версия
CEI EN 62374-1:2012
 

CEI EN 62374-1:2012 История

  • 2012 CEI EN 62374-1:2012 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) межметаллических слоев.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

IEC 62374-1:2010 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев. DS/EN 62374-1/AC:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев. DS/EN 62374-1:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев. GSO IEC 62374-1:2013 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев. NF C96-017-1*NF EN 62374-1:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1: испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) межметаллических слоев. BS EN 62374-1:2010(2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев. OS GSO IEC 62374-1:2013 приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев. DANSK DS/EN 62374-1/AC:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев. DANSK DS/EN 62374-1:2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев.



© 2025. Все права защищены.