KS C IEC 62951-1-2022 Полупроводниковые приборы. Гибкие и растяжимые полупроводниковые приборы. Часть 1. Метод испытания на изгиб проводящих тонких пленок на гибких подложках.
В данной нормативной документации описывается метод изгибного испытания для проводникового пленочного слоя на гибкой подложке, применяемый в области полупроводниковых устройств. Основное внимание уделяется устройствам с гибкими и растяжимыми характеристиками. Норматив определяет процедуры для проведения испытаний и оценивания механических свойств таких материалов.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.
KS C IEC 62951-1-2022 История
2022KS C IEC 62951-1-2022 Полупроводниковые приборы. Гибкие и растяжимые полупроводниковые приборы. Часть 1. Метод испытания на изгиб проводящих тонких пленок на гибких подложках.