Этот стандарт описывает методы испытаний, предназначенные для определения характеристик гибких и растяжимых полупроводниковых устройств. В нем рассматриваются процедуры измерения устойчивости проводящих пленок, нанесенных на гибкие подложки, к изгибающим нагрузкам. Стандарт включает в себя требования к подготовке образцов, условия проведения испытаний и методы оценки результатов. Также определены параметры, которые необходимо учитывать при проведении тестов, такие как температура, влажность и частота изгиба. Документ направлен на обеспечение согласованности методов испытаний и повышение точности получаемых данных.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.