GB/T 38447-2020 (Англоязычная версия) Технология микроэлектромеханических систем — метод усталостных испытаний структуры МЭМС с использованием резонансной вибрации. - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 38447-2020
Технология микроэлектромеханических систем — метод усталостных испытаний структуры МЭМС с использованием резонансной вибрации. (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 38447-2020
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2020
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 38447-2020
 

сфера применения

Анализ основного содержания стандарта

Область применения и технические характеристики

Настоящий стандарт применяется к оценке усталостных характеристик МЭМС-структур в резонансных условиях, уделяя особое внимание обеспечению долговременной надежности микронных структур. Благодаря точному контролю амплитуды колебаний (точность ±3%) и стабильности частоты, он обеспечивает ускоренное старение, эквивалентное реальным условиям эксплуатации.


Сравнение ключевых элементов теста

Элементы Требования Технические трудности
Режим возбуждения Электростатический/пьезоэлектрический/электромагнитный и т. д. Контроль точности нагружения микромасштабной силы
Контроль амплитуды 50-100% от опорной прочности Компенсация дискретной прочности хрупких материалов
Суждение об отказе Частота отклонение>3% или разрушение Онлайн-мониторинг микроповреждений

Точки реализации и примеры использования

Пример испытания актуатора MEMS на основе кремния

В электростатически управляемом микрозеркале используется интегрированная схема обнаружения, представленная в Приложении А. На резонансной частоте 39 кГц:

  • Автоматическая регулировка усиления используется для поддержания колебаний амплитуды ниже 2%
  • Используется пошаговое нагружение напряжением (10 МПа на уровень)
  • Влажность контролируется на уровне 50%±1% для предотвращения помех со стороны окружающей среды

Данные испытаний согласуются с прогнозами закона Пэриса, что подтверждает применимость теории роста трещин.


Анализ развития технологий

По сравнению с традиционным испытанием на усталость металла (GB/T 24176) нововведениями настоящего стандарта являются:

  1. Внедрение резонансной модальной связи для решения проблемы недостаточной движущей силы микроструктуры
  2. Использование онлайн-отслеживания частоты для компенсации влияния температурного дрейфа
  3. Создание композитной модели Вейбулла-Пэриса для кремниевых материалов для объяснения явления многоцикловой усталости

GB/T 38447-2020 Ссылочный документ

  • GB/T 10623 Металлический материал. Механические испытания. Словарь.
  • GB/T 2298 Механическая вибрация, удары и мониторинг состояния. Словарь.
  • GB/T 26111 Техническая терминология микроэлектромеханических систем (МЭМС)*2023-05-23 Обновление

GB/T 38447-2020 История

  • 2020 GB/T 38447-2020 Технология микроэлектромеханических систем — метод усталостных испытаний структуры МЭМС с использованием резонансной вибрации.
Технология микроэлектромеханических систем — метод усталостных испытаний структуры МЭМС с использованием резонансной вибрации.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

GSO IEC 62047-12:2014 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием IEC 62047-12:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием DS/EN 62047-12:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием DIN EN 62047-21 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных МЭМС-материалов NF C96-050-22*NF EN 62047-22:2014 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких DS/EN 62047-4:2010 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 4. Общая спецификация для МЭМС UNE-EN 62047-22:2014 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок IEC 62047-4:2008 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 4. Общие спецификации для МЭМС BS EN 62047-4:2010 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Общая спецификация для MEMS GSO IEC 62047-22:2021 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких



© 2025. Все права защищены.