IEC 62047-33:2019
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 33. Пьезорезистивное устройство MEMS, чувствительное к давлению.
- Стандартный №
- IEC 62047-33:2019
- Дата публикации
- 2019
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 62047-33:2019
- сфера применения
- В этой части IEC 62047 определены термины@ определения@ основные параметры и характеристики@, а также методы испытаний, применимые к пьезорезистивным устройствам MEMS, чувствительным к давлению. Настоящий документ распространяется на пьезорезистивные устройства, чувствительные к давлению, для автомобильной, медицинской, электронной продукции.
IEC 62047-33:2019 История
- 2019 IEC 62047-33:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 33. Пьезорезистивное устройство MEMS, чувствительное к давлению.
стандарты и спецификации
BS IEC 62047-33:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - МЭМС пьезорезистивные чувствительные к давлению устройства
BS IEC 62047-34:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний пьезорезистивного устройства MEMS, чувствительного к давлению на пластине
IEC 62047-34:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 34. Методы испытаний пьезорезистивного устройства MEMS, чувствительного к давлению
IEC 62047-44:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 44. Методы испытаний динамических характеристик МЭМС-резонансных устройств, чувствительных
BS IEC 62047-48:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытаний для определения концентрации раствора методом оптического поглощения
DIN EN 62047-28 E:2015-09 Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические приборы - Часть 28: Методы функциональных испытаний для устройств сбора энергии с электрическим приводом
DIN EN 62047-16 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок МЭМС. Кривизна пластины
DIN EN 62047-22 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких
BS IEC 62047-47:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы - Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности на изгиб микроструктур