ASTM E973M-96

Стандартный №

ASTM E973M-96

Дата публикации

1970

Разместил

/

состояние

снять со счета 2005-01

быть заменен

ASTM E973-02

Последняя версия

ASTM E973-16(2020)

сфера применения

1.1 Настоящий метод испытаний охватывает процедуру определения параметра спектрального несоответствия, используемого при проверке работоспособности фотоэлектрических устройств. 1.2 Параметр спектрального несоответствия является мерой погрешности, вносимой при испытаниях фотоэлектрического устройства, вызванной несоответствием спектральных характеристик фотоэлектрического устройства и фотогальванического эталонного элемента, а также несоответствием между испытательным источником света и эталоном. спектральное распределение освещенности, по которому была откалибрована эталонная фотоэлектрическая ячейка. Примерами эталонных распределений спектральной освещенности являются таблицы E 490, E 891 или E 892. 1.3 Параметр спектрального несоответствия может использоваться для коррекции данных о характеристиках фотоэлектрических систем с учетом ошибки спектрального несоответствия. 1.4 Этот метод испытаний предназначен для использования с линейными фотоэлектрическими устройствами. 1.5 Аналогичного или эквивалентного стандарта ISO не существует. 1.6 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.7 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными.

ASTM E973M-96 Ссылочный документ

• ASTM E1021 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов*， 1995-01-04 Обновление
• ASTM E1036 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек*， 2019-04-01 Обновление
• ASTM E1039 Стандартный метод испытаний для калибровки кремниевых фотоэлектрических первичных эталонных ячеек без концентратора при глобальном облучении (отозван в 2004 г.)*， 2021-03-02 Обновление
• ASTM E1125  Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра*， 1999-01-04 Обновление
• ASTM E1328  Стандартная терминология, относящаяся к фотоэлектрическому преобразованию солнечной энергии*， 1999-01-04 Обновление
• ASTM E1362 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора*， 1999-01-04 Обновление
• ASTM E380 Стандартная практика использования Международной системы единиц (СИ) (модернизированной метрической системы)*， 1993-01-04 Обновление
• ASTM E490 Таблицы спектральной солнечной радиации стандартной солнечной постоянной и нулевой воздушной массы*， 2022-04-01 Обновление
• ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии*， 1987-01-04 Обновление
• ASTM E891 
• ASTM E892 
• ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света*， 1995-01-04 Обновление

ASTM E973M-96 История

• 2020 ASTM E973-16(2020) Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2016 ASTM E973-16 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2015 ASTM E973-15 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2015 ASTM E973-10(2015) Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2010 ASTM E973-10 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2005 ASTM E973-05a Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2005 ASTM E973-05 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2002 ASTM E973-02 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 1970 ASTM E973M-96
• 1991 ASTM E973-91e1 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом