ASTM E1036-15(2019) Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек - Стандарты и спецификации PDF

ASTM E1036-15(2019)
Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек

Стандартный №
ASTM E1036-15(2019)
Дата публикации
2019
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Последняя версия
ASTM E1036-15(2019)
сфера применения
1.1 Данные методы испытаний охватывают электрические характеристики фотоэлектрических модулей и массивов при естественном или искусственном солнечном свете с использованием калиброванного эталонного элемента. 1.1.1 Данные методы испытаний позволяют использовать эталонный модуль вместо эталонной ячейки при условии, что эталонный модуль был откалиброван с использованием этих методов испытаний по калиброванной эталонной ячейке. 1.2 Допускаются измерения в различных условиях; результаты сообщаются в соответствии с выбранным набором условий отчетности (RC), чтобы облегчить сравнение результатов. 1.3 Данные методы испытаний применимы только к наземным модулям и решеткам, не являющимся концентраторами. 1.4 Параметры производительности, определенные этими методами испытаний, применимы только во время испытаний и не подразумевают ни прошлого, ни будущего уровня производительности. 1.5 Настоящие методы испытаний применяются к фотоэлектрическим модулям и матрицам, не содержащим последовательно соединенных фотоэлектрических многопереходных устройств; такой модуль и массивы должны быть протестированы в соответствии с методами испытаний E2236. 1.6 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.7 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.8 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, изданном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).

ASTM E1036-15(2019) Ссылочный документ

  • ASTM E1021 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
  • ASTM E1040 Стандартные спецификации на физические характеристики наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора
  • ASTM E1125  Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
  • ASTM E1362 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
  • ASTM E2236 Стандартные методы испытаний для измерения электрических характеристик и спектрального отклика многопереходных фотоэлектрических элементов и модулей без концентратора
  • ASTM E691 Стандартная практика проведения межлабораторного исследования для определения точности метода испытаний
  • ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии
  • ASTM E927 Стандартные спецификации для моделирования солнечной энергии для испытаний наземных фотоэлектрических систем
  • ASTM E941 Стандартный метод испытаний для калибровки эталонных пиранометров с наклоном оси методом затенения (отозван в 2005 г.)
  • ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
  • ASTM E973 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
  • ASTM G173 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.*2023-03-01 Обновление

ASTM E1036-15(2019) История

  • 2019 ASTM E1036-15(2019) Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
  • 2015 ASTM E1036-15 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
  • 2012 ASTM E1036-12 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
  • 2008 ASTM E1036-08 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
  • 2002 ASTM E1036-02(2007) Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
  • 2002 ASTM E1036-02 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек



© 2023. Все права защищены.