ASTM E1036-08 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
Целью этих процедур является предоставление признанных методов тестирования и составления отчетов об электрических характеристиках фотоэлектрических модулей и массивов. Результаты испытаний могут использоваться для сравнения различных модулей или массивов среди группы аналогичных элементов, которые могут встретиться при тестировании группы модулей или массивов из одного источника. Их также можно использовать для сравнения различных конструкций, например, продуктов разных производителей. Повторные измерения одного и того же модуля или массива могут использоваться для изучения изменений в производительности устройства. Измерения могут проводиться в различных условиях испытаний. Данные измерений численно переводятся из условий испытаний в стандартные RC, в номинальные рабочие условия или в дополнительные условия отчетности, определяемые пользователем. Рекомендуемые значения RC указаны в таблице 1. Если условия испытаний таковы, что температура устройства находится в пределах &#±2&#°C от температуры RC, а общая освещенность находится в пределах &#±5 % излучения RC, численный перевод состоит из поправки к измеренному току устройства на основе общего излучения во время измерения IV. Если положение 5.3.1 не соблюдается, характеристики RC получают на основе четырех отдельных измерений ВАХ при условиях температуры и освещенности, которые ограничивают желаемый RC, используя метод билинейной интерполяции. Существует множество методов, которые можно использовать для определения температуры и освещенности. Один из методов заключается в охлаждении испытуемого модуля ниже эталонной температуры и проведении повторных измерений ВАХ по мере прогрева модуля. Освещенность импульсных источников света можно регулировать с помощью сетчатых фильтров нейтральной плотности с различным коэффициентом пропускания. Если расстояние между симулятором и испытательной плоскостью можно изменять, эту регулировку можно использовать для изменения освещенности. При естественном солнечном свете освещенность будет меняться в зависимости от времени суток или от регулировки угла падения солнечного света. Эти методы испытаний основаны на двух требованиях. Во-первых, эталонная ячейка (или модуль, см. 1.1.1 и 4.3.4) выбирается так, чтобы ее спектральный отклик считался близким к тестируемому модулю или матрице. Во-вторых, необходимо знать спектральный отклик репрезентативной клетки и спектральное распределение источника излучения. Затем калибровочную константу эталонной ячейки корректируют для учета разницы между фактическим и эталонным распределениями спектральной освещенности с использованием параметра спектрального несоответствия, который определен в методе испытаний E 973. Наземные эталонные ячейки калибруются по отношению к эталонному спектральному распределению. Распределение излучения см., например, в таблицах G 173. Эталонная ячейка, изготовленная и откалиброванная, как описано в 4.3, будет показывать общую освещенность, падающую на модуль или матрицу, спектральная характеристика которой близка к характеристике эталонной ячейки. Имея данные о рабочих характеристиках, определенные в соответствии с этими методами испытаний, становится возможным прогнозировать рабочие характеристики модуля или матрицы на основе измерений при любом тестовом источнике света с точки зрения любого эталонного спектрального распределения излучения. Стандартные условия 5.3.1 должны соблюдаться, если измеренная ВАХ имеет «изгибы»; или несколько точек перегиба. ТАБЛИЦА 1. Условия отчетности Суммарная освещенность, Вт...........
ASTM E1036-08 История
2019ASTM E1036-15(2019) Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
2015ASTM E1036-15 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
2012ASTM E1036-12 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
2008ASTM E1036-08 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
2002ASTM E1036-02(2007) Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
2002ASTM E1036-02 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек