ASTM E973-16 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом

Стандартный №: ASTM E973-16
Дата публикации: 2016
Разместил: American Society for Testing and Materials (ASTM)
состояние: быть заменен
быть заменен: ASTM E973-16(2020)
Последняя версия: ASTM E973-16(2020)

сфера применения: 5.1. Рассчитанная погрешность тока фотоэлектрического устройства, определенная на основе параметра спектрального несоответствия, может использоваться для определения того, будет ли измерение находиться в заданных пределах, прежде чем будет выполнено фактическое измерение. 5.2 Параметр спектрального несоответствия также обеспечивает средство коррекции ошибки в измеренном токе устройства из-за спектрального несоответствия. 5.2.1 Параметр спектрального рассогласования формулируется как дробная погрешность тока короткого замыкания из-за спектральных и температурных различий. 5.2.2. Ошибка из-за несоответствия спектров корректируется путем умножения измеренного тока короткого замыкания эталонной ячейки на M - метод, используемый в методах испытаний E948 и E1036. 5.3. Поскольку при вычислении параметра спектрального несоответствия все спектральные величины появляются как в числителе, так и в знаменателе (см. 8.1), мультипликативные ошибки калибровки компенсируются, и поэтому необходимы только относительные величины (хотя могут быть абсолютные спектральные величины). использовать, если таковой имеется). 5.4. Температурно-зависимое спектральное рассогласование является более точным методом коррекции измерений фотогальванического тока по сравнению с температурными коэффициентами с фиксированными значениями.3 1.1. Этот метод испытаний обеспечивает процедуру определения спектрального Параметр несоответствия, используемый при тестировании производительности фотоэлектрических устройств. 1.2 Параметр спектрального несоответствия является мерой ошибки, вносимой при тестировании фотоэлектрического устройства, которая вызвана тем, что испытуемое фотоэлектрическое устройство и фотоэлектрический эталонный элемент имеют неидентичные квантовые эффективности, а также несоответствие между тестовым источником света и эталонным спектральным распределением освещенности, по которому был откалиброван эталонный фотоэлектрический элемент. 1.2.1. Примерами эталонных спектральных распределений освещенности являются таблицы E490 или G173. 1.3. Параметр спектрального несоответствия можно использовать для коррекции данных о характеристиках фотоэлектрических систем за ошибку спектрального несоответствия. 1.4. Зависящая от температуры квантовая эффективность используется для количественной оценки влияния разницы температур между условиями испытаний и условиями отчетности. 1,5 Этот метод испытаний предназначен для использования с линейными фотоэлектрическими устройствами, в которых короткое замыкание прямо пропорционально падающему излучению. 1,6. Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандартные. Других единиц измерения нет....

ASTM E973-16 Ссылочный документ

ASTM E1021 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
ASTM E1036 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек*， 2019-04-01 Обновление
ASTM E1125 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
ASTM E1362 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
ASTM E490 Таблицы спектральной солнечной радиации стандартной солнечной постоянной и нулевой воздушной массы*， 2022-04-01 Обновление
ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии
ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
ASTM G138 Стандартный метод испытаний для калибровки спектрорадиометра с использованием стандартного источника излучения
ASTM G173 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.*， 2023-03-01 Обновление

ASTM E973-16 История

2020 ASTM E973-16(2020) Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
2016 ASTM E973-16 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
2015 ASTM E973-15 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
2015 ASTM E973-10(2015) Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
2010 ASTM E973-10 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
2005 ASTM E973-05a Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
2005 ASTM E973-05 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
2002 ASTM E973-02 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
1991 ASTM E973-91e1 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом