OS GSO IEC 60191-6-21:2017
Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6-21. Общие правила подготовки контурных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа. Методы измерения размеров корпусов малых контуров (SOP)

Стандартный №

OS GSO IEC 60191-6-21:2017

Дата публикации

2017

Разместил

The Directorate General of Specifications and Metrology (DGSM)

Последняя версия

OS GSO IEC 60191-6-21:2017

Введение

Данный стандарт определяет общие правила для составления чертежей внешних форм поверхностно-установленных полупроводниковых устройств, включая малогабаритные пакеты (SOP). Он также содержит методы измерения размеров для таких упаковок. Стандарт предназначен для использования в области стандартизации механических характеристик полупроводниковых устройств.

*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.

OS GSO IEC 60191-6-21:2017 История

• 2017 OS GSO IEC 60191-6-21:2017 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6-21. Общие правила подготовки контурных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа. Методы измерения размеров корпусов малых контуров (SOP)

стандарты и спецификации