CEI EN 61745:2018
Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна

Стандартный №

CEI EN 61745:2018

Дата публикации

2018

Разместил

Comitato Elettrotecnico Italiano

Последняя версия

CEI EN 61745:2018

Введение

В данной нормативной документации описывается методика для анализа изображений поверхностей волокон оптических кабелей, используемая при校准光纤几何测试装置。该程序旨在确保测量设备的准确性，并提供详细的指导，以实现一致和可重复的结果。文档中包含了必要的技术细节、计算方法以及评估标准。

*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.

CEI EN 61745:2018 История

• 2018 CEI EN 61745:2018 Процедура анализа конечного изображения для калибровки наборов для тестирования геометрии оптического волокна

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации