Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?, Всего: 17 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?, являются: Физика. Химия, Оптика и оптические измерения, Керамика, Линейные и угловые измерения, Цветные металлы, Аналитическая химия, Атомная энергетика.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- GB/T 32262-2015 Подготовка образца дезоксирибонуклеиновой кислоты для измерения с помощью атомно-силового микроскопа
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- GB/T 28872-2012 Методика испытаний магнитно-слабоударного атомно-силового микроскопа для нанотопографии живых клеток
- GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
国家能源局, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Professional Standard - Petroleum, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
German Institute for Standardization, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
Group Standards of the People's Republic of China, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
Standard Association of Australia （SAA）, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- AS 2061:1989 Подготовка проб угля для микроскопии падающего света
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- KS D 2714-2021 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
- KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
GSO, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- GSO ISO 13095:2015 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
International Organization for Standardization (ISO), Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
British Standards Institution (BSI), Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
Professional Standard - Nuclear Industry, Как подготовить образцы для атомно-силовой микроскопии?
- EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа