Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом, Всего: 76 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом, являются: Аналитическая химия, Линейные и угловые измерения, Механические испытания, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Строительные материалы, Керамика, Словари, Образование, Физика. Химия, Обработка поверхности и покрытие, Качество воздуха, Черные металлы, Краски и лаки, Электронные устройства отображения, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры.
SCC, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- AWWA ACE56156 Оценка характера загрязнения поверхности мембран с помощью планшетного сканера и сканирующего электронного микроскопа
- 13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии
- BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- VDI/VDE 2656 BLATT 1-2019 Определение геометрических размеров с помощью сканирующих зондовых микроскопов - калибровка измерительных систем
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.
- 06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.
国家能源局, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Professional Standard - Petroleum, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
International Organization for Standardization (ISO), Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
Association of German Mechanical Engineers, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
- VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
Group Standards of the People's Republic of China, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- T/SPSTS 032-2023 Общие технические условия на сканирующую электрохимическую микроскопию
- T/COEMA 21O-2024 Полигональное сканирующее зеркало для ЛИДАРа
- T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
- T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
- GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM
- GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
- GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
- GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
- GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
- GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
Professional Standard - Commodity Inspection, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
- SN/T 3009-2011 Идентификация коррозии морской водой на металлической поверхности с помощью СЭМ
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
Professional Standard - Machinery, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
- JB/T 7503-1994 Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
- JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
British Standards Institution (BSI), Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- 24/30497406 DC BS ISO 5490 Сталь. Оценка и классификация неметаллических включений с использованием сканирующего электронного микроскопа.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
GSO, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GSO ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
Professional Standard - Education, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
American Society for Testing and Materials (ASTM), Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
- ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2006 Bestimmung geometrischer Messgroessen mit Rastersondermikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen
- VDI 3866 BLATT 5-2015 Лучшая иммунизация асбеста в технических продуктах - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
BE-NBN, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
Professional Standard - Judicatory, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- SF/T 0139-2023 Исследование почвы сканирующим электронным микроскопом/рентгеновской энергетической спектрометрией
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- DB32/T 4546-2023 Технические условия на автоматизированный просмотр изображений диатомей с использованием сканирующих электронных микроскопов
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом
- DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа