| Характерные параметры | Технология измерения | Рекомендуемый уровень |
|---|---|---|
| Толщина частиц | АСМ/ТЭМ/Рамановская спектроскопия | R |
| Латеральный размер | СЭМ/ТЭМ/Лазерная дифракция | R |
| Удельная площадь поверхности | БЭТ-газ Метод адсорбции | R |
При измерении толщины с помощью рекомендуемого стандартом атомно-силового микроскопа (АСМ) укажите количество атомных слоёв углерода или физическую толщину в нанометрах. Для многослойных образцов процентное содержание необходимо указывать в соответствии с критериями классификации: 1–3 слоя, 4–10 слоёв, 10–100 слоёв и >100 слоёв.
Удельная площадь поверхности определяется с использованием метода БЭТ при температуре жидкого азота, а точность измерения должна соответствовать требованиям BS ISO 9277.
Этот стандарт возник на основе результатов исследований графена, удостоенных Нобелевской премии в 2010 году. В ответ на проблему непоследовательной характеристики материалов, возникшую в процессе индустриализации, впервые была проведена систематическая стандартизация требований к испытаниям продукции как сверху вниз (механическое отшелушивание), так и снизу вверх (химическое осаждение из газовой фазы).

© 2025. Все права защищены.