BS EN ISO 18757:2006 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Определение удельной поверхности керамических порошков методом адсорбции газа методом БЭТ.
ISO 18757:2003 содержит рекомендации по определению общей удельной внешней и внутренней площади дисперсных или пористых (диаметр пор более 2 нм) тонкодисперсных керамических материалов путем измерения количества физически адсорбированного газа по методу Брунауэра, Эммета и Теллер (метод СТАВКИ). Настоящий международный стандарт фокусируется только на конкретных деталях, относящихся к тонким керамическим материалам. Следует также отметить, что метод БЭТ нельзя применять к изотермам типа I (микропористые материалы или поведение хемосорбции) или когда твердое вещество адсорбирует измерительный газ.
BS EN ISO 18757:2006 История
2006BS EN ISO 18757:2006 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Определение удельной поверхности керамических порошков методом адсорбции газа методом БЭТ.
2006BS EN ISO 18757:2005 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Определение удельной поверхности керамических порошков методом адсорбции газа методом БЭТ.