GB/T 15878-2015 (Англоязычная версия) Полупроводниковые интегральные схемы. Спецификация выводных рамок для небольшого корпуса.

Стандартный №: GB/T 15878-2015
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 2015
Разместил: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия: GB/T 15878-2015
заменять: GB/T 15878-1995

сфера применения: Настоящий стандарт определяет технические требования и правила проверки выводных рамок малого контура (SOP) (далее называемых выводными рамками) для полупроводниковых интегральных схем. Настоящий стандарт распространяется на штампованные выводы для небольших корпусов полупроводниковых интегральных схем.

GB/T 15878-2015 Ссылочный документ

GB/T 14112-2015 Полупроводниковые интегральные схемы. Спецификация на штампованные выводные рамки из пластика DIP.
GB/T 14113 Терминология корпусов для полупроводниковых интегральных схем
GB/T 2423.60-2008 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытание U: Надежность выводов и встроенных монтажных устройств.
GB/T 2828.1-2012 Процедура проверки путем подсчета выборки, часть 1: План выборочного контроля по партиям, полученный по пределу приемочного качества (AQL)
GB/T 7092 Габаритные размеры полупроводниковых интегральных схем*， 2021-03-09 Обновление
SJ 20129 Методы измерения толщины металлического покрытия

2015 GB/T 15878-2015 Полупроводниковые интегральные схемы. Спецификация выводных рамок для небольшого корпуса.
1995 GB/T 15878-1995 Спецификация выводных рамок для небольшого эскизного пакета