ASTM F1996-14 Стандартный метод испытаний на миграцию серебра в схемах мембранных переключателей

сфера применения: 4.1. Последствиями миграции серебра являются короткое замыкание или снижение сопротивления изоляции. Об этом свидетельствует окрашивание или обесцвечивание проводящих следов катода и анода. 4.2. Ускоренное испытание может быть проведено путем увеличения напряжения сверх указанных значений. (Типичная отправная точка — 5 В постоянного тока, 50 мА). 1.1. Этот метод испытаний используется для определения чувствительности мембранного переключателя к миграции серебра между дорожками цепи под потенциалом постоянного напряжения. 1.2 Миграция серебра будет происходить при наличии особых условий влажности и электрической энергии.

ASTM F1996-14 Ссылочный документ

ASTM F1596 Стандартный метод испытаний на воздействие температуры и относительной влажности на мембранный переключатель или печатное электронное устройство*， 2023-11-02 Обновление
ASTM F1689 Стандартный метод испытаний для определения сопротивления изоляции мембранного переключателя

2014 ASTM F1996-14 Стандартный метод испытаний на миграцию серебра в схемах мембранных переключателей
2006 ASTM F1996-06 Стандартный метод испытаний на миграцию серебра в схемах мембранных переключателей
2001 ASTM F1996-01 Стандартный метод испытаний на миграцию серебра в схемах мембранных переключателей
2000 ASTM F1996-00 Стандартный метод испытаний на миграцию серебра в схемах мембранных переключателей