Последствиями миграции серебра являются короткое замыкание или снижение сопротивления изоляции. Об этом свидетельствует окрашивание или обесцвечивание проводящих следов катода и анода. Ускоренное тестирование может быть выполнено путем увеличения напряжения сверх указанного значения. (Типичная отправная точка — 5 В постоянного тока, 50 мА). 1.1 Этот метод испытаний используется для определения чувствительности мембранного переключателя к миграции серебра между дорожками цепи под напряжением постоянного тока. 1.2 Миграция серебра происходит в особых условиях влажности и электрическая энергия присутствует.
ASTM F1996-06 История
2014ASTM F1996-14 Стандартный метод испытаний на миграцию серебра в схемах мембранных переключателей
2006ASTM F1996-06 Стандартный метод испытаний на миграцию серебра в схемах мембранных переключателей
2001ASTM F1996-01 Стандартный метод испытаний на миграцию серебра в схемах мембранных переключателей
2000ASTM F1996-00 Стандартный метод испытаний на миграцию серебра в схемах мембранных переключателей