KS C IEC 60748-20-1:2003
Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 20. Общие спецификации пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем. Раздел 1. Требования к внутреннему визуальному осмотру.

Стандартный №

KS C IEC 60748-20-1:2003

Дата публикации

2003

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

быть заменен

быть заменен

KS C IEC 60748-20-1-2003(2019)

Последняя версия

KS C IEC 60748-20-1-2003(2019)

сфера применения

Предисловие Настоящим стандартом является IEC 60748-20-1 Semi, первое издание опубликовано в 1994 году.

KS C IEC 60748-20-1:2003 История

• 0000 KS C IEC 60748-20-1-2003(2019)
• 2003 KS C IEC 60748-20-1:2003 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 20. Общие спецификации пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем. Раздел 1. Требования к внутреннему визуальному осмотру.