KS C IEC 60748-20-1-2003(2019)
Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 20. Общие спецификации для пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем. Раздел 1. Требования к внутреннему визуальному осмотру.

Стандартный №

KS C IEC 60748-20-1-2003(2019)

Дата публикации

2003

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Последняя версия

KS C IEC 60748-20-1-2003(2019)

KS C IEC 60748-20-1-2003(2019) История

• 0000 KS C IEC 60748-20-1-2003(2019)
• 2003 KS C IEC 60748-20-1:2003 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 20. Общие спецификации пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем. Раздел 1. Требования к внутреннему визуальному осмотру.