IEC 62149-2:2014 Волоконно-оптические активные компоненты и устройства. Стандарт производительности. Часть 2. Лазерные устройства поверхностного излучения с дискретным вертикальным резонатором, длина волны 850 нм.

Стандартный №: IEC 62149-2:2014
Дата публикации: 2014
Разместил: International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия: IEC 62149-2:2014
заменять: IEC 86C/1146/CDV:2013 IEC 62149-2:2009

сфера применения: «Эта часть IEC 62149 охватывает технические характеристики для 850-нм дискретных лазеров поверхностного излучения с вертикальным резонатором (VCSEL) поперечных многомодовых типов, используемых для волоконно-оптических телекоммуникаций и оптических приложений передачи данных. Стандарт производительности содержит определение требований к производительности продукта. вместе с серией наборов испытаний и измерений с четко определенными условиями @ строгостью @ и критериями «пройдено/не пройдено». Продукт, который, как было доказано, соответствует всем требованиям стандарта производительности, может быть объявлен как соответствующий стандарту производительности@, но затем должен контролироваться программой обеспечения качества/соответствия качества. В зависимости от скоростей модуляции@ подразделяется на подкатегории Типы A1@ A2@ A3 и A4 соответствуют 1@25 Гбит/с@ 2@5 Гбит/с@ 4@25 Гбит/с и 10 Гбит/с VCSEL@ соответственно. Каждая подклассифицированная спецификация также определяется отдельными деталями в зависимости от типа устройства@, например, спецификации для устройства VCSEL без фотодиода монитора (случай a) и для устройства VCSEL с фотодиодом монитора (случай b)».

IEC 62149-2:2014 Ссылочный документ

IEC 60749-10:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.
IEC 60749-11:2002 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры; Метод двухжидкостной ванны
IEC 60749-12:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 12. Вибрация переменной частоты.
IEC 60749-25:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 25. Температурное циклирование.
IEC 60749-26:2013 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
IEC 60749-6:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
IEC 60749-7:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
IEC 60825-1:2014 Безопасность лазерной продукции. Часть 1. Классификация оборудования и требования.
IEC 60950-1:2005 Оборудование информационных технологий. Безопасность. Часть 1. Общие требования.
IEC 61300-2-19:2012 Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 2-19. Испытания. Влажное тепло (стабильное состояние).
IEC 61300-2-48:2009 Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 2-48. Испытания. Циклическое изменение температуры и влажности.
IEC 61300-2-4:1995 Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 2-4. Испытания. Удержание волокна/кабеля.
IEC 62148-15:2009 Волоконно-оптические активные компоненты и устройства. Стандарты на корпуса и интерфейсы. Часть 15. Дискретные пакеты поверхностно-излучающих лазеров с вертикальным резонатором
IEC Guide 107:2009 Электромагнитная совместимость. Руководство по составлению публикаций по электромагнитной совместимости.

IEC 62149-2:2014 История

2014 IEC 62149-2:2014 Волоконно-оптические активные компоненты и устройства. Стандарт производительности. Часть 2. Лазерные устройства поверхностного излучения с дискретным вертикальным резонатором, длина волны 850 нм.
2009 IEC 62149-2:2009 Волоконно-оптические активные компоненты и устройства. Стандарты производительности. Часть 2. Лазерные устройства поверхностного излучения с дискретным вертикальным резонатором, длина волны 850 нм