BS ISO 17470:2014
Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны

Стандартный №: BS ISO 17470:2014
Дата публикации: 2014
Разместил: British Standards Institution (BSI)
Последняя версия: BS ISO 17470:2014
заменять: BS ISO 17470:2004

сфера применения: Настоящий международный стандарт содержит руководство по идентификации элементов и исследованию наличия определенных элементов в определенном объеме (в мкм3) образца путем анализа рентгеновских спектров, полученных с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии на электронно-зондовом микроанализаторе или сканирующем электронном микроскопе.

BS ISO 17470:2014 Ссылочный документ

ISO 14594:2003 Анализ по микрофайсу - Анализ по электронному микрозонду (Microsonde de Castaing) - Линии направления для определения экспериментальных параметров для спектрометрии по дисперсии по длине света

BS ISO 17470:2014 История

2014 BS ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны
2004 BS ISO 17470:2004 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны

Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны

Специальные темы по стандартам и нормам

Анализ преимуществ и недостатков волнового спектра и энергетического спектра.

стандарты и спецификации

BH GSO ISO 17470:2017 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны. JIS K 0190:2010 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны. BS ISO 17470:2004 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны GSO ISO 17470:2015 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны. ISO 14595:2003/Cor 1:2005 Анализ микросхем - Микроанализ с помощью электронов - Линии управления спецификациями материалов, справочных сертификатов (CRM) МЕТОД ИСПРАВЛЕНИЯ 1 (Премьерное ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине BS ISO 14594:2024 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны ISO 14594:2024 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны BS ISO 14594:2003 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны

© 2025. Все права защищены.