GB/T 29851-2013
Метод испытаний для измерения бора и алюминия в кремниевых материалах, используемых в фотоэлектрических приложениях, методом вторичной ионной масс-спектрометрии (Англоязычная версия)

Стандартный №: GB/T 29851-2013
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 2013
Разместил: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия: GB/T 29851-2013

сфера применения: Настоящий стандарт определяет метод определения содержания бора и алюминия в кремниевых материалах для фотоэлектрических элементов методом вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС). Настоящий стандарт применим к количественному анализу содержания акцепторных примесей бора и алюминия в кремниевых материалах для фотоэлектрических элементов, где концентрации бора и алюминия превышают 1×1013 атомов/см3. Измерение других примесей-акцепторов также может соответствовать этому стандарту.

GB/T 29851-2013 История

2013 GB/T 29851-2013 Метод испытаний для измерения бора и алюминия в кремниевых материалах, используемых в фотоэлектрических приложениях, методом вторичной ионной масс-спектрометрии

Метод испытаний для измерения бора и алюминия в кремниевых материалах, используемых в фотоэлектрических приложениях, методом вторичной ионной масс-спектрометрии

Специальные темы по стандартам и нормам

Содержание примесей Содержание примесей Содержание примесей тройного материала PV Кубок Фарадея ионный спектр ион+масс-спектр+ ионная масс-спектрометрия ионная масс-спектрометрия вторичные ионы вторичная масс-спектрометрия масс-спектрометрия вторичных ионов

стандарты и спецификации

ASTM F1528-94(1999 Стандартный метод испытаний для измерения загрязнения бором в сильно легированных кремниевых подложках N-типа с помощью вторичной ионной масс-спектрометрии ISO 17560:2014 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии AS ISO 17560:2006 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии JIS K 0143:2000 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных AS ISO 14237:2006 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных ISO 17560:2002 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии BS ISO 17560:2002 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии GSO ISO 17560:2013 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения глубинного профиля бора в кремнии ISO 14237:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных ISO 14237:2000 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных

© 2025. Все права защищены.