GB/T 6495.10-2012
Фотоэлектрические устройства.Часть 10.Методы измерения линейности. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 6495.10-2012

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2012

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 6495.10-2012

сфера применения

В этой части GB/T 6495 указаны параметры испытаний для определения процедуры характеристики линейности любого параметра фотоэлектрических устройств, которая в основном используется калибровочными лабораториями, производителями компонентов и разработчиками систем. Оценку фотоэлектрических модулей и характеристик системы можно выполнить с помощью линейных уравнений, а характеристики при другом наборе условий также можно рассчитать на основе характеристик при одном наборе условий температуры и освещенности (см. GB/T 6495.4 и GB/T 18210). ). Эта часть ISO 10000 определяет требования и методы испытаний характеристик линейности, чтобы гарантировать удовлетворительные результаты для линейных уравнений. Эти требования ограничивают диапазон изменений температуры и освещенности, в которых может применяться линейное уравнение. Методы измерения, описанные в этом разделе, применимы ко всем фотоэлектрическим устройствам и могут быть распространены на образцы или сопоставимые устройства, созданные по той же технологии. Его следует использовать перед всеми процедурами тестирования и коррекции, необходимыми для линейных устройств. Метод, используемый в этом разделе, аналогичен линейной функции, определенной в GB/T 6495.4. Эта линейная (прямая) функция получается путем аппроксимации набора точек данных с использованием метода расчета аппроксимации методом наименьших квадратов. Отклонение данных от этой функции также можно рассчитать, а отклонение от линейности выразить как допустимое процентное отклонение. Характеристики линейности фотоэлектрического устройства учитываются только в том случае, если соблюдаются следующие интересующие условия диапазона температуры и освещенности. Типичный минимальный диапазон температур составляет 25℃～60℃, а минимальный диапазон освещенности составляет 700 Вт·м-2～1000 Вт·м-2. а) Для кривой тока короткого замыкания относительно изменения освещенности нормализованное стандартное отклонение наклона (σS/м) составляет менее 0,02; б) для кривой напряжения холостого хода относительно логарифмического изменения освещенности нормированное стандартное отклонение наклона (σS/м) менее 0,05; c) стандартное отклонение нормированного наклона (σS/м) менее 0,1 для кривых напряжения холостого хода и тока короткого замыкания в зависимости от изменения температуры; г) Относительные спектры для определенного диапазона длин волн при определенном напряжении. Отклик изменяется менее чем на 5%. Общие процедуры определения линейности этих и других рабочих параметров приведены в главах 4–6.

GB/T 6495.10-2012 Ссылочный документ

• GB/T 18210-2000 Фотоэлектрическая (PV) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте.
• GB/T 18911-2002 Тонкопленочные наземные фотоэлектрические (PV) модули. Квалификация конструкции и одобрение типа
• GB/T 6495.2-1996 Фотоэлектрические устройства. Часть 2: Требования к эталонным солнечным элементам
• GB/T 6495.3-1996 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
• GB/T 6495.4-1996 Процедуры внесения поправок на температуру и освещенность в измеренные ВАХ фотоэлектрических устройств на основе кристаллического кремния.
• GB/T 6495.7-2006 Фотоэлектрические устройства. Часть 7. Расчет ошибки спектрального несоответствия, возникшей при тестировании фотоэлектрического устройства.
• GB/T 6495.8-2002 Фотоэлектрические устройства, часть 8: Измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (PV) устройства
• GB/T 6495.9-2006 Фотоэлектрические устройства. Часть 9. Требования к характеристикам солнечного симулятора
• IEC 61215:1993 Наземные фотоэлектрические (ФЭ) модули из кристаллического кремния; квалификация конструкции и одобрение типа
• SJ/T 11209-1999  Фотоэлектрические устройства.Часть 6:Требования к эталонным солнечным модулям

GB/T 6495.10-2012 История

• 2012 GB/T 6495.10-2012 Фотоэлектрические устройства.Часть 10.Методы измерения линейности.

GB/T 6495.10-2012 - Все части