GB/T 18210-2000
Фотоэлектрическая (PV) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 18210-2000

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2000

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 18210-2000

сфера применения

Настоящий международный стандарт описывает процедуры измерения на месте характеристик фотоэлектрических батарей из кристаллического кремния и экстраполяции измеренных данных на стандартные условия испытаний (STC) или другие выбранные условия температуры и освещенности. Измерение ВАХ фотоэлектрической батареи в реальных условиях на объекте и их экстраполяция в условиях приемочных испытаний (ATC), способное предоставить (см. Приложение A и IECQ QC001002): a) данные о номинальной мощности; б) проверка установленной мощности, соответствуют ли энергетические характеристики квадратной решетки проектным характеристикам; в) обнаружить разницу между характеристиками полевых компонентов и лабораторными или заводскими измерениями; г) обнаружить ухудшение производительности компонентов и квадратного массива относительно исходных полевых данных. Данные полевых измерений, экстраполированные на стандартные условия испытаний (STC) для данного компонента, можно напрямую сравнивать с результатами, полученными ранее в лаборатории и на заводе. Условием является то, что стандартное фотоэлектрическое устройство, используемое в обоих измерениях, имеет одинаковую спектральную характеристику и одинаковую пространственно-распределенную характеристику. См. соответствующий стандарт GB/T 6495 (или IEC 60904). Данные, измеряемые полевой матрицей, включают диоды, кабели и потери из-за рассогласования. Следовательно, они не могут быть напрямую сопоставлены с суммой данных компонентов. Если фотоэлектрическая решетка состоит из нескольких подрешеток с разными углами возвышения, углами азимута, процессами и электрическими структурами, описанные здесь процедуры будут применяться только к каждой фотоэлектрической подрешетке.

GB/T 18210-2000 История

• 2000 GB/T 18210-2000 Фотоэлектрическая (PV) матрица из кристаллического кремния. Измерение ВАХ на месте.