DS/EN 61967-1:2002
Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения.

Стандартный №: DS/EN 61967-1:2002
Дата публикации: 2002
Разместил: Danish Standards Foundation
Последняя версия: DS/EN 61967-1:2002

сфера применения: Эта часть IEC 61967 предоставляет общую информацию и определения по измерению кондуктивных и излучаемых электромагнитных помех интегральными схемами. Он также содержит описание условий измерения, испытательного оборудования и настроек, а также процедур испытаний и содержания протоколов испытаний. Сравнительная таблица методов испытаний включена в приложение А, чтобы помочь в выборе подходящего(их) метода(ов) измерения.

DS/EN 61967-1:2002 История

2002 DS/EN 61967-1:2002 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения.

стандарты и спецификации

IEC 61967-1:2002 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения. DANSK DS/EN 61967-1:2002 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения. CEI EN 61967-1:2002 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения. IEC 61967-1:2018 RLV Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1. Общие условия и определения IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Поправка 1. Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений. Метод прямой DIN EN 62132-2:2011-07*VDE 0847-22-2:2011-07 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение кондуктивных излучений. Метод магнитного зонда EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной DIN EN 62132-8:2013-03*VDE 0847-22-8:2013-03 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости

© 2025. Все права защищены.