Toggle navigation
Стартовая страница
CEI EN 61967-1:2002
Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения.
Стартовая страница
CEI EN 61967-1:2002
Стандартный №
CEI EN 61967-1:2002
Дата публикации
2002
Разместил
Comitato Elettrotecnico Italiano
Последняя версия
CEI EN 61967-1:2002
CEI EN 61967-1:2002 История
2002
CEI EN 61967-1:2002
Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения.
стандарты и спецификации
IEC 61967-1:2002
Интегральные
схемы
.
Измерение
электромагнитного
излучения
в
диапазоне
от
150
кГц
до
1
ГГц
.
Часть
1
.
Общие
условия
и
определения
.
DS/EN 61967-1:2002
Интегральные
схемы
.
Измерение
электромагнитного
излучения
в
диапазоне
от
150
кГц
до
1
ГГц
.
Часть
1
.
Общие
условия
и
определения
.
DANSK DS/EN 61967-1:2002
Интегральные
схемы
.
Измерение
электромагнитного
излучения
в
диапазоне
от
150
кГц
до
1
ГГц
.
Часть
1
.
Общие
условия
и
определения
.
IEC 61967-1:2018 RLV Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1. Общие условия и определения
IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Поправка 1. Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений. Метод прямой
DIN EN 62132-2:2011-07*VDE 0847-22-2:2011-07 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости
IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение кондуктивных излучений. Метод магнитного зонда
EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной
DIN EN 62132-8:2013-03*VDE 0847-22-8:2013-03 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости
© 2025. Все права защищены.