IEC 62047-10:2011/COR1:2012
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на сжатие микростолбиков материалов МЭМС; Исправление 1
- Стандартный №
- IEC 62047-10:2011/COR1:2012
- Дата публикации
- 2012
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 62047-10:2011/COR1:2012
IEC 62047-10:2011/COR1:2012 История
- 2012 IEC 62047-10:2011/COR1:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на сжатие микростолбиков материалов МЭМС; Исправление 1
- 2011 IEC 62047-10:2011 Dispositifs à semiconducteur - Dispositifs microélectromécaniques - Часть 10: Очерк сжатия с использованием техники микропилеров для материалов MEMS (издание 1.0)
