GB/T 25186-2010
Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным стандартным образцам. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 25186-2010
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2010
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Последняя версия
- GB/T 25186-2010
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт определяет метод определения коэффициентов относительной чувствительности при масс-спектрометрии вторичных ионов на основе ионно-имплантированных эталонных материалов. Настоящий стандарт распространяется на образцы с единой матрицей химического состава, у которых пиковая атомная концентрация вводимого вещества не превышает 1%.
GB/T 25186-2010 Ссылочный документ
- GB/T 22461-2008 Химический анализ поверхности. Словарь.
GB/T 25186-2010 История
- 2010 GB/T 25186-2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным стандартным образцам.
Специальные темы по стандартам и нормам
Относительная молекулярная масса флуорена
Вторичная ионная спектроскопия
относительная спектральная чувствительность
Как масс-спектрометрия определяет ионы-предшественники веществ
МС-ион
Чувствительность определена
Масс-спектр + ион
двухфазный сепаратор
Масс-спектр + Ион +
Масс-спектр + ион
Масс-спектр + ионизация
Sims масс-спектрометрия вторичных ионов
стандарты и спецификации
ISO 18114:2021 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности на основе ионно-имплантированных
GSO ISO 18114:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным эталонным
ISO 18114:2003 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности на основе ионно-имплантированных
BS ISO 18114:2003 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности на основе ионно-имплантированных
KS D ISO 18114:2005 Химический анализ поверхности－Масс-спектрометрия вторичных ионов－Определение коэффициентов относительной чувствительности на основе ионно-имплантированных
ASTM E1505-92(1996 Стандартное руководство по определению коэффициентов относительной чувствительности SIMS на основе ионно-имплантированных внешних стандартов
ASTM E1505-92(2001 Стандартное руководство по определению коэффициентов относительной чувствительности SIMS на основе ионно-имплантированных внешних стандартов
BS ISO 18116:2005 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа
AS ISO 18114:2006 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности на основе ионно-имплантированных
GSO ISO 18116:2008 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа