QC 001002-5-2008 (Англоязычная версия) Система оценки качества IEC для электронных компонентов (схема IECQ). Правила процедуры. Часть 5. Требования к управлению процессами, связанными с опасными веществами (IECQ HSPM). - Стандарты и спецификации PDF

QC 001002-5-2008
Система оценки качества IEC для электронных компонентов (схема IECQ). Правила процедуры. Часть 5. Требования к управлению процессами, связанными с опасными веществами (IECQ HSPM). (Англоязычная версия)

Стандартный №
QC 001002-5-2008
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2008
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
QC 001002-5-2008
заменять
QC 001002-5-2005
 

Введение
Данный стандарт регламентирует требования к процессу управления вредными веществами в рамках системы оценки качества электронных компонентов. Он описывает процедуры и правила, которые должны соблюдаться для обеспечения соответствия продукции установленным критериям. Стандарт включает в себя детальные положения, касающиеся контроля, мониторинга и документирования процессов, связанных с использованием вредных веществ. Он направлен на повышение уровня безопасности и экологической устойчивости продукции, а также на обеспечение прозрачности и надежности производственных процессов. В тексте стандарта приводятся общие принципы, методы реализации и требования к сертификации, которые могут быть применены в различных отраслях промышленности. Документ содержит информацию, необходимую для эффективного управления и контроля, а также для обеспечения соответствия международным стандартам.

QC 001002-5-2008 История

  • 2008 QC 001002-5-2008 Система оценки качества IEC для электронных компонентов (схема IECQ). Правила процедуры. Часть 5. Требования к управлению процессами, связанными с опасными веществами (IECQ HSPM).
  • 2005 QC 001002-5-2005 Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ). Правила процедуры. Часть 5. Требования к управлению процессами обращения с опасными веществами.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

IECQ 03-5-2018 Система оценки качества электронных компонентов IEC (Система IECQ). Правила производства. Часть 5. Схема IECQ HSPM. Требования к управлению процессами обращения IECQ QC 080000-EN:2017 Требования к системе управления процессами обращения с опасными веществами (HSPM IECQ 03-4-2018 Система оценки качества МЭК для электронных компонентов (система IECQ IECQ 03-3-2018 Система оценки качества электронных компонентов IEC (Система IECQ) – Правила процедуры – Часть 3: Схема одобренных IECQ компонентов, сопутствующих материалов IECQ 03-2-2018 Система оценки качества электронных компонентов IEC (Система IECQ). Правила процедуры. Часть 2. Схема процесса, утвержденная IECQ DS/IEC 747-10:1992 Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем IECQ 03-8-2018 Система оценки качества IEC для электронных компонентов (Система IECQ) – Правила процедуры – Часть 8: Схема IECQ для светодиодного освещения GSO IEC 60747-10:2014 Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общие спецификации для дискретных устройств и интегральных схем QC 001002-4 AMD 2-2004 Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ-CECC). Правила процедуры. Часть 4. Требования к программе оценки авионики, касающиеся плана наблюдения



© 2025. Все права защищены.